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涂镀层厚度分析仪

台式涂镀层厚度分析仪,用于通用的涂层厚度测量和材料测试,具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口。   镀层厚度测试仪典型应用领域   •汽车行业中活塞表面的含铁涂层   &#8... ...

价格:电议
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涂层测厚仪

AT12涂层测厚仪是一种经济实用型便携式测量仪,通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。它能快速、伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领... ...

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电解式镀层测厚仪

AT36电解式镀层测厚仪是把被测物浸入相应的电解液并加以相应电流,使面积的被测物溶解,根据溶解所需的时间测出镀层厚度。      AT36电解式镀层测厚仪主要特点:   采用电测公司的WT线材测量台(专... ...

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涂镀层厚度分析仪

台式涂镀层厚度分析仪,用于通用的涂层厚度测量和材料测试,具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口。      镀层厚度测试仪典型应用领域   ? 汽车行业中活塞表面的含铁涂层   ? 奥... ...

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X射线荧光光谱仪

品牌:Axxis(艾克斯)   型号:AX-320(AX-320源于AX-300,与AX-300的区别是多了可调的微动样品台)      X射线荧光光谱仪功能用途:主要用于各种黑色金属(如钢铁、锰等)、各种有色金属,(如铜、锌、锡... ...

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RoHS检测仪

AX-200与AX-180一脉相承,不同的是AX-200比后者多一个可微调的移动样品台。可调微动样品台能够更定位测试点,对一些测试要求较高的微小样品测试胜任。   AX-200 RoHS测试仪技术参数   分析对象:固... ...

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X荧光镀层测厚仪

功能用途:主要用于各种金属镀层的厚度分析。   应用行业:电镀、五金、连接器、端子、PCB、手表、饰品等。   性能特点      新型的X荧光测厚仪,采用半导体解析器,能精准测试任何复杂镀层;   ... ...

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ROHS检测仪器 (AX-180)

AX-180 ROHS仪器性能特点   半导体解析器,分辨率高、元素识别能力强;   全数字化X射线核能采集系统,稳定、精准;   50W低功率X光管,风冷、,使用寿命长;   自动可切换的滤光片,满足不同... ...

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X射线镀层测厚仪 (AT-5000)

AT-5000是新型的X射线镀层测厚仪。它采用的半导体探测器,能精准测试任何复杂的镀层结构,使用的定位系统,可以测试直径很小的样品。其强大的分析功能,在镀层测厚领域大显身手。 ...

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便携式X荧光光谱仪(AXXIS AX650)

这是一台可以随身携带的小型便携式X荧光光谱仪。如果您需要快速、实时和高的分析,AXXIS AX650是您的选择。同时,它在和反仿冒应用上能为您提供解决方案。      便携式X荧光光谱仪技术参... ...

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电解式测厚仪

AT30型智能电解测厚仪是国内获得电脑型智能库仑测厚仪新产品型式批准和通过质量技术监督部门试验合格及、采用国际新技术,具有自主知识产权的高科技产品。        AT30型电解测厚仪是库... ...

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便携式X荧光光谱仪(AXXIS AX650)

这是一台可以随身携带的小型便携式X荧光光谱仪。如果您需要快速、实时和高的分析,AXXIS AX650是您的选择。同时,它在和反仿冒应用上能为您提供解决方案。      便携式X荧光光谱仪技术参... ...

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电解式测厚仪

AT30型智能电解测厚仪是国内获得电脑型智能库仑测厚仪新产品型式批准和通过质量技术监督部门试验合格及、采用国际新技术,具有自主知识产权的高科技产品。        AT30型电解测厚仪是库... ...

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RoHS测试仪

AX-660型RoHS测试仪是一种快速、、的测试仪,价格经济适合企业应对欧盟、北美、日韩指令,是现代化企业的品质控制RoHS测试仪工具。   RoHS仪器性能指标:   可测元素:硫(S)-... ...

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X射线镀层测厚仪

AT-5000型X射线膜厚仪   AT-5000是新型的X射线镀层测厚仪。它采用的半导体探测器,能精准测试任何复杂的镀层结构,使用的定位系统,可以测试直径很小的样品。其强大的分析功能,在镀层测厚领域大... ...

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元素分析仪

AX-180型RoHS仪器简介   AX-180 RoHS测试仪是一款经济、便捷的品质检控仪器。外观时尚大气,大的样品腔可以轻松容纳各种大小的样品。采用固定的样品台,省去调节移动样品台的繁琐操作。   AX-180 Ro... ...

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X荧光测厚仪

AT-3800型X荧光测厚仪利用X射线快速、、的测试镀层/涂层厚度,可以测试多层镀层、合金镀层等复杂模式。是一款高端的X射线膜厚仪。   X荧光测厚仪性能指标   镀层种类:单金属、合金、无机薄膜   可... ...

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